PV07300 - SEMI PV73 - Test Method for Thin-Film Silicon Photovoltaic (PV) Modules Light Soaking Revision:SEMI PV73-0216 (Withdrawn 0922) - Withdrawn SEMI MF671-99 (first SEMI publication)

SEMI MF671-99 (first SEMI publication)

and test semiconductor products which is intended to be located in clean-rooms used for semiconductor manufacturing processes or areas within their recirculation airstream

本スタンダードは，300 mm径ウェーハキャリア（搬送用カセット，プロセスカセット，クォーツボート，ポッド，ロットボックス，シッピングボックスを含む）を人間工学的に設置し，正確に支持するのに使用される，自動位置決め機構であるキネマティックカプリングを規定する。これらのキネマティックカプリングは次のようなインタフェースにおいて使用される。

This Guide provides minimum definitions for site utilities needed to support the UPW system

これらの仕様は円形で平坦化されたGaSbウェーハの購入に対して要求される情報とこれらウェーハの供給に対する標準的な寸法や方位の約定を含む。

PV07300 - SEMI PV73 - Test Method for Thin-Film Silicon Photovoltaic (PV) Modules Light Soaking Revision:SEMI PV73-0216 (Withdrawn 0922) - Withdrawn SEMI MF671-99 (first SEMI publication)NOTICE: This Document was balloted and approved for withdrawal in 2022. This Standard provides a performance test method for the initial light induced degradation in thin film silicon photovoltaic (PV) modules. The current standard for stabilization in thin film silicon PV modules is IEC 61646 (module output power <2% change after successive 43 kW m2 exposure periods). According to the IEC standard, light soaking time less than 200 hours is usually